近红外型光斑质量分析仪JYCCD-NIR1000

产品说明

景颐光电自主研发的JYCCD-NIR1000光束质量分析仪可实现400-1800nm红外激光光斑检测及测试应用,对激光光束的大小,形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析,为客户提供定制光束质量分析一体化设计解决方案,并支持多应用开发。可根据客户不同需求进行模块化定制。基于InGaAs相机的光斑分析仪是确保用眼安全的军事、通信和医疗激光应用的理想选择。

性能特点

InGaAs红外相机性能

符合ISO标准的准确性

本产品像素大小5μmx5μm

光斑检测直径范围50μm~4.5mm

标配衰减片,方便操作,可选更高功率衰减配置,功率范围可达1000W

支持手动和自动实时曝光及增益调节

主要测量功能

光斑直径(长轴/短轴,X/Y方向)

椭圆度,高斯拟合度

能量分布,光束位置,发散角

Pass/Fail设置

高速度、高分辨率显示2D和3D伪彩色光束轮廓

实时进行光斑的伪彩色2D显示、长短轴的高斯曲线显示

支持控制相机的曝光、增益和分辨率

支持参数的统计分析

记录和导出参数,或者生成报告

读取光斑图片并测量参数

多选择的图片保存功能

支持USB3.0接口

图形化界面,易上手,可自由设置

可定制拓展功能

典型应用

激光器光斑测量

激光光斑模式缺陷检测

准直器光斑检测

光纤对准耦合分析

光学器件质量检查

外光路准直等

常见问题解答

Q: 该光束质量分析仪支持哪些波段的激光检测?

A: 本产品可实现400-1800nm范围内的红外激光光斑检测及测试应用,特别适用于InGaAs红外相机检测。

Q: 该设备的主要测量功能和参数有哪些?

A: 主要功能包括测量光斑直径(长轴/短轴,X/Y方向)、椭圆度、高斯拟合度、能量分布、光束位置、发散角等,并支持Pass/Fail设置。

Q: 该光束质量分析仪是否支持定制和高功率应用?

A: 是的,本产品支持模块化定制,可根据客户不同需求进行开发。此外,标配衰减片,可选更高功率配置,功率范围可达1000W。

近红外型光斑质量分析仪JYCCD-NIR1000
芯片类型 InGaAs
口径规格 1/2“
波长范围 400-1800nm
通光孔径 6x4.5mm
像元尺寸 5x5μm
外触发 支持
分辨率 1280*1024
可测光斑范围 50um~4.5mm
曝光时间范围 15us-60s
增益范围 1x-15x
制冷范围 低于环境温度10℃
数字I\O 一路光耦隔离输入,一路光耦隔离输入,二路非隔离输入输出
工作温度 -20~60℃
湿度 20%-80%,无冷凝
重量 385g
位深(bit) 12bit
衰减片 标配4片衰减片
供电接口 USB
认证 CE,FCC
质保 一年(耗材和人为损坏除外)
产品编号
型号
参数
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JYCCD-NIR1000
口径规格:1/2“
波长范围:400-1800nm
通光孔径:6x4.5mm
像元尺寸:5x5μm
分辨率:1280*1024
可测光斑范围:50um~4.5mm
芯片类型:InGaAs
15个工作日内发货
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