膜厚测量仪FILMTHICK-C20 探头系列
产品说明
FILMTHICK-C20 是广州景颐光电科技有限公司自主研发的高精度探头式光学膜厚测量设备。该设备基于成熟的反射式光谱干涉原理，采用高精度光纤探头设计，可实现薄膜厚度、折射率等参数的快速、接触式测量。C20系列采用高强度卤钨灯光源，覆盖深紫外至近红外波段（190-1700nm），配合高性能CCD/InGaAs探测器和高速数据采集系统，具备纳米级测量精度和千赫兹级采样速率。设备采用模块化设计，核心部件可独立更换，降低维护成本，满足不同场景下的快速升级需求。该系列产品已广泛应用于半导体晶圆检测、液晶显示面板镀层测量、光学镜片镀膜质检、生物医学薄膜分析等领域，成为行业内备受信赖的专业检测设备。
产品特点
采用高强度氘钨灯光源，光谱覆盖深紫外到近红外范围
基于薄膜层上界面与下界面的反射光相干涉原理，轻松解析膜层厚度
配置强大核心分析算法：FFT分析厚膜、曲线拟合分析法分析薄膜的物理参数信息
高精度光纤探头：探头接口采用标准SMA905传输线路，确保测量稳定性和重复性
应用领域
高精密膜厚测量案例
半导体：硅半导体、碳化硅半导体、砷化镓半导体、光刻胶、氧化物/氮化物工艺薄膜、介电材料、硅或其他半导体膜层
液晶显示：OLED、玻璃厚度、聚酰亚胺、ITO与其他TCO
光学镀层：HC硬涂层、AR抗反射层、AG防眩光涂层、滤光片眼镜
生物医学：Parylene派瑞林、聚合物、生物膜、医疗设备
薄膜：AR膜、HC膜、PET膜
行业案例
合作客户
- 光斑大小 标准1.5mm（可选配至10um）
- 样品尺寸 标准300mm（可选配）
- 测试时间 优于0.1秒
- 光源寿命 10000小时
- 质保 一年（人为损坏和耗材除外）
产品编号
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